ФГУП «Научно-исследовательский институт электронной техники»
Список авторов организации
Список статей, написанных авторами организации
-
Краткое описание
Рассмотрено влияние одиночных сбоев на работу цифровых устройств, а также получен обобщенный критерий надежности для интегральных схем. Полученный критерий наложен на конкретные микросхемы, используемые на практике
-
Моделирование радиационных эффектов в САПР микроэлектроники
Краткое описаниеПредставлены методы моделирования радиацион-ных эффектов микросхем в микросхемах. Рассмот-рена методика проектирования, информационное и лингвистическое обеспечение. Предложены методы оценки стойкости к переходным эффектам